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文献
J-GLOBAL ID：201102277490890353
整理番号：11A0724397
ウィーン美術史博物館における美術品の研究に適応するXRF分光計の第2部開発(携帯用ART解析器)
PART II (Portable ART analyzer)-development of a XRF spectrometer adapted for the study of artworks in the Kunsthistorisches Museum, Vienna
BUZANICH G.
(TU Vienna, Vienna, AUT)
,
WOBRAUSCHEK P.
(TU Vienna, Vienna, AUT)
,
STRELI C.
(TU Vienna, Vienna, AUT)
,
MARKOWICZ A.
(Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT)
,
MARKOWICZ A.
(AGH Univ. Sci. and Technol., Krakow, POL)
,
WEGRZYNEK D.
(Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT)
,
WEGRZYNEK D.
(AGH Univ. Sci. and Technol., Krakow, POL)
,
CHINEA-CANO E.
(Agency’s Lab. Seibersdorf, International Atomic Energy Agency, Seibersdorf, AUT)
,
GRIESSER M.
(Kunsthistorisches Museum, Vienna, AUT)
,
UHLIR K.
(Kunsthistorisches Museum, Vienna, AUT)
資料名：
X-Ray Spectrometry
(X-Ray Spectrometry)
巻： 39 号： 2 ページ： 98-102 発行年： 2010年03月
JST資料番号： D0456B ISSN： 0049-8246 CODEN： XRSPAX 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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