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文献
J-GLOBAL ID：201102285917608169
整理番号：11A1376221
マイクロコンピュータ断層撮影(マイクロCT)と集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)の併用によるベレア砂岩の微細構造の理解
Understanding the micro structure of Berea Sandstone by the simultaneous use of micro-computed tomography (micro-CT) and focused ion beam-scanning electron microscopy (FIB-SEM)
BERA Bijoyendra
(Univ. Alberta Edmonton, CAN)
,
MITRA Sushanta K.
(Univ. Alberta Edmonton, CAN)
,
VICK Douglas
(NRC-National Inst. for Nanotechnology, Edmonton, CAN)
資料名：
Micron
(Micron)
巻： 42 号： 5 ページ： 412-418 発行年： 2011年07月
JST資料番号： E0318E ISSN： 0968-4328 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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