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文献
J-GLOBAL ID:201102288950865290   整理番号:11A0467069

RF応用のための直接パターン化Ag回路の特性評価

Characterization of direct patterned Ag circuits for RF application
著者 (7件):
KIM J.-W.
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
LEE Y.-C.
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
JUNG S.-B.
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
KIM J.-M.
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
NAH W.
(Sungkyunkwan Univ., Suwon, KOR)
LEE H.-S.
(Korea Inst. of Industrial Technol., Incheon, KOR)
KWON H.-C.
(Korea Inst. of Industrial Technol., Incheon, KOR)

資料名:
Microelectronic Engineering  (Microelectronic Engineering)

巻: 87  号:ページ: 379-382  発行年: 2010年03月 
JST資料番号: C0406B  ISSN: 0167-9317  CODEN: MIENEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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