文献
J-GLOBAL ID:201102299862745910
整理番号:11A0565947
周波数コムに基づくテラヘルツ周波数測定法
Terahertz Frequency Metrology Based on Frequency Comb
著者 (7件):
YASUI Takeshi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
YOKOYAMA Shuko
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
YOKOYAMA Shuko
(Micro Optics Co. Ltd., Kyoto, JPN)
,
INABA Hajime
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)
,
MINOSHIMA Kaoru
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Tsukuba, JPN)
,
NAGATSUMA Tadao
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
ARAKI Tsutomu
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics
(IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics)
巻:
17
号:
1
ページ:
191-201
発行年:
2011年01月
JST資料番号:
W0734A
ISSN:
1077-260X
CODEN:
IJSQEN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)