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文献
J-GLOBAL ID:201202154404681367   整理番号:12A1418034

イオンマイクロビーム照射したシリカガラスの顕微分光評価

著者 (11件):
惣野崇
(芝浦工大)
西川宏之
(芝浦工大)
山口喬之
(東京都大 工)
渡辺英紀
(東京都大 工)
西原義孝
(早稲田大 理工)
服部雅晴
(早稲田大 理工)
藤巻真
(早稲田大 理工)
大木義路
(早稲田大 理工)
及川将一
(原研 高崎研)
神谷富裕
(原研 高崎研)
荒川和夫
(原研 高崎研)

資料名:
応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)

巻: 48th  号:ページ: 940  発行年: 2001年03月28日 
JST資料番号: Y0054A  資料種別: 会議録 (C)
発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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