文献
J-GLOBAL ID:201202200902872902
整理番号:12A1212809
負バイアス-温度ストレス下での捕獲数と生成時間分布の評価とモデリング
Characterization and modeling of trap number and creation time distributions under negative-bias-temperature stress
著者 (3件):
CHIU Jung-piao
(Dep. of Electronics Engineering and Inst. of Electronics, National Chiao Tung Univ., 1001 Ta-Hsueh Road, Hsinchu 300 ...)
,
LI Chi-wei
(Dep. of Electronics Engineering and Inst. of Electronics, National Chiao Tung Univ., 1001 Ta-Hsueh Road, Hsinchu 300 ...)
,
WANG Tahui
(Dep. of Electronics Engineering and Inst. of Electronics, National Chiao Tung Univ., 1001 Ta-Hsueh Road, Hsinchu 300 ...)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
101
号:
8
ページ:
082906-082906-3
発行年:
2012年08月20日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)