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文献
J-GLOBAL ID：201202205070492065
整理番号：12A1743272
分光偏光解析法と磁気光学Kerr効果スペクトロスコピーによる強磁性基板上の有機薄膜のキャラクタリゼーション
Characterization of Organic Thin Films on Ferromagnetic Substrates by Spectroscopic Ellipsometry and Magneto-Optical Kerr Effect Spectroscopy
FRONK Michael
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
SCHUBERT Christian
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
HAIDU Francisc
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
SCARLAT Camelia
(Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR), Dresden, DEU)
,
DOERR Kathrin
(Leibniz Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)
,
ALBRECHT Manfred
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
ZAHN Dietrich R. T.
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
,
SALVAN Georgeta
(Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
資料名：
IEEE Transactions on Magnetics
(IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 48 号： 11 ページ： 2777-2780 発行年： 2012年11月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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