文献
J-GLOBAL ID:201202205830196984
整理番号:12A0630291
ナノ秒ゲートモード駆動シリコンアバランシェフォトダイオードとそのCeドープしたYAGセラミクスの蛍光寿命の測定への応用
A nanosecond gate-mode-driven silicon avalanche photodiode and its application to measuring fluorescence lifetimes of Ce-doped YAG ceramics
著者 (4件):
MIYATA Tsuyoshi
(Kochi National Coll. of Technol., Kochi, JPN)
,
IWATA Tetsuo
(Univ. Tokushima, Tokushima, JPN)
,
NAKAYAMA Susumu
(Niihama National Coll. of Technol., Ehime, JPN)
,
ARAKI Tsutomu
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Measurement Science and Technology
(Measurement Science and Technology)
巻:
23
号:
3
ページ:
035501,1-7
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
C0354C
ISSN:
0957-0233
CODEN:
MSTCEP
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)