文献
J-GLOBAL ID:201202205857235981
整理番号:12A0363390
箔をベースにしたキャパシタの品質試験方法
Quality testing methods of foil-based capacitors
著者 (3件):
SMULKO Janusz
(Gdansk Univ. of Technol., Gdansk, POL)
,
JOZWIAK Kazimierz
(ZPR Miflex SA, Kutno, POL)
,
OLESZ Marek
(Gdansk Univ. of Technol., Gdansk, POL)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
3
ページ:
603-609
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)