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文献
J-GLOBAL ID：201202206423150283
整理番号：12A0809480
照射したグラフェンを素材とするシステムにおける共通の欠陥の電子輸送兆候
Electronic transport signatures of common defects in irradiated graphene-based systems
DERETZIS I.
(Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (CNR-IMM), Z.I. VIII Strada 5, 95121 Catania, ITA)
,
PICCITTO G.
(Dipartimento di Fisica e Astronomia, Universita di Catania, Via Santa Sofia 64, 95123 Catania, ITA)
,
LA MAGNA A.
(Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (CNR-IMM), Z.I. VIII Strada 5, 95121 Catania, ITA)
資料名：
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 282 ページ： 108-111 発行年： 2012年07月01日
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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