文献
J-GLOBAL ID:201202207034636665
整理番号:12A1500706
マイクロコントローラに及ぼす間欠的な欠陥の影響調査
Studying the effects of intermittent faults on a microcontroller
著者 (5件):
GIL-TOMAS Daniel
(Grupo de Sistemas Tolerantes a Fallos (GSTF), Instituto ITACA, Univ. Politecnica de Valencia, ESP)
,
GRACIA-MORAN Joaquin
(Grupo de Sistemas Tolerantes a Fallos (GSTF), Instituto ITACA, Univ. Politecnica de Valencia, ESP)
,
BARAZA-CALVO J.-carlos
(Grupo de Sistemas Tolerantes a Fallos (GSTF), Instituto ITACA, Univ. Politecnica de Valencia, ESP)
,
SAIZ-ADALID Luis-j.
(Grupo de Sistemas Tolerantes a Fallos (GSTF), Instituto ITACA, Univ. Politecnica de Valencia, ESP)
,
GIL-VICENTE Pedro-j.
(Grupo de Sistemas Tolerantes a Fallos (GSTF), Instituto ITACA, Univ. Politecnica de Valencia, ESP)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
11
ページ:
2837-2846
発行年:
2012年11月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)