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文献
J-GLOBAL ID:201202207404170741   整理番号:12A0563199

液状の半田付け中のNi/SnAg/Cuの微小バンプ内の界面反応に及ぼす濃度勾配の影響

The effect of a concentration gradient on interfacial reactions in microbumps of Ni/SnAg/Cu during liquid-state soldering
著者 (4件):
HUANG Y.s.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
HSIAO H.y.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
CHEN Chih
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
TU K.n.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, CA 90095-1595, USA)

資料名:
Scripta Materialia  (Scripta Materialia)

巻: 66  号: 10  ページ: 741-744  発行年: 2012年05月 
JST資料番号: B0915A  ISSN: 1359-6462  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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