文献
J-GLOBAL ID:201202207404170741
整理番号:12A0563199
液状の半田付け中のNi/SnAg/Cuの微小バンプ内の界面反応に及ぼす濃度勾配の影響
The effect of a concentration gradient on interfacial reactions in microbumps of Ni/SnAg/Cu during liquid-state soldering
著者 (4件):
HUANG Y.s.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
,
HSIAO H.y.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
,
CHEN Chih
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 30010, Taiwan, TWN)
,
TU K.n.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, Univ. of California at Los Angeles, Los Angeles, CA 90095-1595, USA)
資料名:
Scripta Materialia
(Scripta Materialia)
巻:
66
号:
10
ページ:
741-744
発行年:
2012年05月
JST資料番号:
B0915A
ISSN:
1359-6462
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)