文献
J-GLOBAL ID:201202208638310896
整理番号:12A0378419
Si/SiGe量子ドットにおける三重項-一重項緩和のシングルショット測定
Single-Shot Measurement of Triplet-Singlet Relaxation in a Si/SiGe Double Quantum Dot
著者 (11件):
PRANCE J.R.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
SHI Zhan
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
SIMMONS C.B.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
SAVAGE D.E.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
LAGALLY M.G.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
SCHREIBER L.R.
(TU Delft, Delft, NLD)
,
VANDERSYPEN L.M.K.
(TU Delft, Delft, NLD)
,
FRIESEN Mark
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
JOYNT Robert
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
COPPERSMITH S.N.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
,
ERIKSSON M.A.
(Univ. Wisconsin-Madison, Wisconsin, USA)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
108
号:
4
ページ:
046808.1-046808.4
発行年:
2012年01月27日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)