文献
J-GLOBAL ID:201202209230653805
整理番号:12A0148764
EBSDパターンのオフライン解決する配列をもつ高速向き顕微鏡
High-speed orientation microscopy with offline solving sequences of EBSD patterns
著者 (2件):
SCHWARZER R. A.
(Kappstr, Herrenberg, DEU)
,
HJELEN J.
(NTNU, Trondheim, NOR)
資料名:
Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena
(Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻:
160
ページ:
295-300
発行年:
2010年
JST資料番号:
T0583A
ISSN:
1012-0394
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)