文献
J-GLOBAL ID:201202211332465528
整理番号:12A1008916
電子デバイスのEMC解析に対する自動近傍場走査アルゴリズム
Automated Near-Field Scanning Algorithm for the EMC Analysis of Electronic Devices
著者 (6件):
DESCHRIJVER Dirk
(Ghent Univ., Ghent, BEL)
,
VANHEE Filip
(Univ. Coll. Katholieke Hogeschool Brugge-Oostende(KHBO), Ostend, BEL)
,
VANHEE Filip
(Katholieke Universiteit Leuven, Leuven, BEL)
,
PISSOORT Davy
(Univ. Coll. Katholieke Hogeschool Brugge-Oostende(KHBO), Ostend, BEL)
,
PISSOORT Davy
(Katholieke Universiteit Leuven, Leuven, BEL)
,
DHAENE Tom
(Ghent Univ., Ghent, BEL)
資料名:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
(IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻:
54
号:
3
ページ:
502-510
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
H0383A
ISSN:
0018-9375
CODEN:
IEMCAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)