文献
J-GLOBAL ID:201202211473257147
整理番号:12A0140187
被覆層/基板モデルから誘導されたシミュレーテッドARXPSデータからの深さプロフィル抽出に対する正則化法
Regularization methods for the extraction of depth profiles from simulated ARXPS data derived from overlayer/substrate models
著者 (1件):
PAYNTER R.w.
(INRS Energie Materiaux Telecommunications, 1650 boul. Lionel-Boulet, Varennes, Quebec, CAN)
資料名:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
(Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻:
184
号:
11-12
ページ:
569-582
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
D0266C
ISSN:
0368-2048
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)