文献
J-GLOBAL ID:201202211677386892
整理番号:12A1030896
軸インタセプトダイアグラムを利用した静電コアレンズの収差補正条件
Stigmatic condition for electrostatic core-lens by using diagram of axis intercept
著者 (2件):
NISHI R.
(Res. Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka Univ., 7-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, JPN)
,
TAKAOKA A.
(Res. Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka Univ., 7-1 Mihogaoka, Ibaraki, Osaka 567-0047, JPN)
資料名:
Optik
(Optik)
巻:
123
号:
16
ページ:
1492-1496
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
D0251A
ISSN:
0030-4026
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)