文献
J-GLOBAL ID:201202212062086720
整理番号:12A0025875
マイクロ波およびRF用のナノスケールGME-TRC MOSFETのAC解析
AC analysis of nanoscale GME-TRC MOSFET for microwave and RF applications
著者 (4件):
MALIK Priyanka
(Semiconductor Devices Res. Lab., Dep. of Electronic Sci., Univ. of Delhi, South Campus, Benito Juarez Road, Dhaula ...)
,
GUPTA R.s.
(Dep. of Electronics & Communication Engineering, Maharaja Agrasen Inst. of Technol., Sector-22, Rohini, Delhi 110 ...)
,
CHAUJAR Rishu
(Dep. of Applied Physics, Delhi Technological Univ., Sector-17, Rohini, Bawana Road, Delhi 110 042, IND)
,
GUPTA Mridula
(Semiconductor Devices Res. Lab., Dep. of Electronic Sci., Univ. of Delhi, South Campus, Benito Juarez Road, Dhaula ...)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
1
ページ:
151-158
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)