文献
J-GLOBAL ID:201202213100750830
整理番号:12A0583252
原子間力顕微鏡を用いてクリーニングしたグラフェン
Cleaning graphene using atomic force microscope
著者 (3件):
LINDVALL Niclas
(Dep. of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers Univ. of Technol., SE-41296 Gothenburg, SWE)
,
KALABUKHOV Alexey
(Dep. of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers Univ. of Technol., SE-41296 Gothenburg, SWE)
,
YURGENS August
(Dep. of Microtechnology and Nanoscience, Chalmers Univ. of Technol., SE-41296 Gothenburg, SWE)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
111
号:
6
ページ:
064904-064904-4
発行年:
2012年03月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)