文献
J-GLOBAL ID:201202213679934890
整理番号:12A1245945
ミクロンスケールの数層グラフェン暗視野光電子放射顕微鏡法
Dark field photoelectron emission microscopy of micron scale few layer graphene
著者 (4件):
BARRETT N.
(IRAMIS/SPCSI/LENSIS, F-91191 Gif-sur-Yvette, FRA)
,
CONRAD E.
(The Georgia Inst. of Technol., Atlanta, Georgia 30332-0430, USA)
,
WINKLER K.
(Omicron Nanotechnology GmbH, 65232 Taunusstein, DEU)
,
KROEMKER B.
(Omicron Nanotechnology GmbH, 65232 Taunusstein, DEU)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
83
号:
8
ページ:
083706-083706-6
発行年:
2012年08月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)