文献
J-GLOBAL ID:201202214280092522
整理番号:12A1485747
低損失・高動的丈夫さに対する600Vへ向けての高速回復ダイオードに及ぼすRFC技術の大きな影響
Great Impact of RFC Technology on Fast Recovery Diode towards 600V for Low Loss and High Dynamic Ruggedness
著者 (4件):
MASUOKA Fumihito
(Mitsubishi Electric Corp., Fukuoka, JPN)
,
NAKAMURA Katsumi
(Mitsubishi Electric Corp., Fukuoka, JPN)
,
NISHII Akito
(Mitsubishi Electric Corp., Fukuoka, JPN)
,
TERASHIMA Tomohide
(Mitsubishi Electric Corp., Fukuoka, JPN)
資料名:
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs
(Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)
巻:
24th
ページ:
373-376
発行年:
2012年
JST資料番号:
W1300A
ISSN:
1943-653X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)