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J-GLOBAL ID：201202216448327809 整理番号：12A0249915

偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定

High Precision Measurement of Twist Elastic Constant K22 of LC Materials Based on the Ellipsometry Analysis

著者 (5件)：

石鍋隆宏

(東北大大学院工学研究科)

森田ゆずか

(東北大大学院工学研究科)

大野友嗣

(東北大大学院工学研究科)

宮下哲哉

(東北工大)

内田龍男

(仙台高専)

資料名：

電気学会電子デバイス研究会資料 (電気学会研究会資料)

巻： EDD-12 号： 1-4.7-29 ページ： 63-66 発行年： 2012年01月27日
JST資料番号： Z0910A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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