文献
J-GLOBAL ID:201202217041179720
整理番号:12A0311376
温度変動を考慮したパワーグリッド解析と検証
Power grid analysis and verification considering temperature variations
著者 (3件):
HAGHDAD Kian
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Waterloo, 200 Univ. Avenue West, Waterloo, Canada ON N2L 3G1)
,
JAFFARI Javid
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Waterloo, 200 Univ. Avenue West, Waterloo, Canada ON N2L 3G1)
,
ANIS Mohab
(The American Univ. in Cairo, Electronics Engineering Dep., New Cairo 11835, Egypt)
資料名:
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻:
43
号:
3
ページ:
189-197
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
A0186A
ISSN:
0026-2692
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)