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文献
J-GLOBAL ID:201202217041179720   整理番号:12A0311376

温度変動を考慮したパワーグリッド解析と検証

Power grid analysis and verification considering temperature variations
著者 (3件):
HAGHDAD Kian
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Waterloo, 200 Univ. Avenue West, Waterloo, Canada ON N2L 3G1)
JAFFARI Javid
(Dep. of Electrical and Computer Engineering, Univ. of Waterloo, 200 Univ. Avenue West, Waterloo, Canada ON N2L 3G1)
ANIS Mohab
(The American Univ. in Cairo, Electronics Engineering Dep., New Cairo 11835, Egypt)

資料名:
Microelectronics Journal  (Microelectronics Journal)

巻: 43  号:ページ: 189-197  発行年: 2012年03月 
JST資料番号: A0186A  ISSN: 0026-2692  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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