文献
J-GLOBAL ID:201202218806676058
整理番号:12A1722724
低温透過型電子顕微鏡のための部位特異的集束イオンビームリフトアウト法
A site-specific focused-ion-beam lift-out method for cryo Transmission Electron Microscopy
著者 (6件):
RUBINO Stefano
(Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE)
,
AKHTAR Sultan
(Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE)
,
MELIN Petter
(Dep. of Microbiology, Swedish Univ. of Agricultural Sciences, Box 7025, 750 07 Uppsala, SWE)
,
SEARLE Andrew
(Gatan Inc., 25 Nuffield Way, Abingdon Oxon OX14 1RL, GBR)
,
SPELLWARD Paul
(Gatan Inc., 25 Nuffield Way, Abingdon Oxon OX14 1RL, GBR)
,
LEIFER Klaus
(Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE)
資料名:
Journal of Structural Biology
(Journal of Structural Biology)
巻:
180
号:
3
ページ:
572-576
発行年:
2012年12月
JST資料番号:
W0838A
ISSN:
1047-8477
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)