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文献
J-GLOBAL ID：201202219403169586
整理番号：12A1162468
サンプル効率の良い回帰ツリー(SERT)を用いた区分的回帰モデル構成と半導体収量分析への応用
Piecewise regression model construction with sample efficient regression tree (SERT) and applications to semiconductor yield analysis
HONG Amos
(Dep. of Mechanical Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 104, Taiwan, TWN)
,
CHEN Argon
(Graduate Inst. of Industrial Engineering and Dep. of Mechanical Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 104 ...)
資料名：
Journal of Process Control
(Journal of Process Control)
巻： 22 号： 7 ページ： 1307-1317 発行年： 2012年08月
JST資料番号： W0388A ISSN： 0959-1524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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