文献
J-GLOBAL ID:201202220621861848
整理番号:12A1106257
Markov法による半導体製造における品質起因再入電気試験システムの解析
Analysis of quality-caused re-entrance electrical test system in semiconductor manufacturing by Markov method
著者 (4件):
LI N.
(Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN)
,
JIANG Z.
(Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN)
,
LIU G.
(Intel Corp., Chengdu, CHN)
,
ZHANG Z.
(Dongguan Univ. Technol., Dongguan, CHN)
資料名:
International Journal of Production Research
(International Journal of Production Research)
巻:
50
号:
10/12
ページ:
3486-3497
発行年:
2012年05月15日
JST資料番号:
E0521A
ISSN:
0020-7543
CODEN:
IJPRB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)