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文献
J-GLOBAL ID：201202222063698750
整理番号：12A1584392
長期環境曝露下でのシリコン太陽電池モジュールにおける微視的劣化機構
Microscopic Degradation Mechanisms in Silicon Photovoltaic Module under Long-Term Environmental Exposure
MATSUDA Keiko
(Toray Res. Center, Inc., Otsu, JPN)
,
WATANABE Takeshi
(Toray Res. Center, Inc., Otsu, JPN)
,
SAKAGUCHI Koichi
(Toray Res. Center, Inc., Otsu, JPN)
,
YOSHIKAWA Masanobu
(Toray Res. Center, Inc., Otsu, JPN)
,
DOI Takuya
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Saga, JPN)
,
MASUDA Atsushi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Saga, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51 号： 10,Issue 2 ページ： 10NF07.1-10NF07.5 発行年： 2012年10月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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