文献
J-GLOBAL ID:201202222855913453
整理番号:12A0425022
白色光干渉法を用いた構造化ナノ導波路デバイスの局所的波長分散の新測定方法
A New Method of Measuring Localized Chromatic Dispersion of Structured Nanowaveguide Devices Using White-Light Interferometry
著者 (7件):
KIM Dong Wook
(Inha Univ., Incheon, KOR)
,
KIM Seung Hwan
(Inha Univ., Incheon, KOR)
,
KIM Seung Hwan
(Advanced Technol. Inc., Incheon, KOR)
,
LEE Seoung Hun
(Inha Univ., Incheon, KOR)
,
KIM Kyong Hon
(Inha Univ., Incheon, KOR)
,
LEE Jong-Moo
(ETRI, Daejeon, KOR)
,
LEE El-Hang
(INHA Univ., Incheon, KOR)
資料名:
Journal of Lightwave Technology
(Journal of Lightwave Technology)
巻:
30
号:
1-4
ページ:
43-48
発行年:
2012年01月01日
JST資料番号:
H0922A
ISSN:
0733-8724
CODEN:
JLTEDG
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)