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文献
J-GLOBAL ID：201202223756541214
整理番号：12A0248640
ナノメートル表面構造の探査用のピコ秒軟X線レーザ干渉計
Picosecond Soft-X-ray Laser Interferometer for Probing Nanometer Surface Structure
OCHI Yoshihiro
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
TERAKAWA Kota
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
HASEGAWA Noboru
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
YAMAMOTO Minoru
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
YAMAMOTO Minoru
(Univ. Tokushima, Tokushima, JPN)
,
TOMITA Takuro
(Univ. Tokushima, Tokushima, JPN)
,
KAWACHI Tetsuya
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
MINAMI Yasuo
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
NISHIKINO Masaharu
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
IMAZONO Takashi
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
ISHINO Masahiko
(Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN)
,
SUEMOTO Tohru
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 51 号： 1,Issue 1 ページ： 016601.1-016601.3 発行年： 2012年01月25日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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