文献
J-GLOBAL ID:201202226217739980
整理番号:12A1457815
プラズモニックナノ材料におけるホットスポットパターンの特性評価のための走査型第二高調波発生顕微鏡技術のロバスト性
Robustness of the scanning second harmonic generation microscopy technique for characterization of hotspot patterns in plasmonic nanomaterials
著者 (12件):
VALEV V. K.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
,
DE CLERCQ B.
(Univ. Hasselt, Diepenbeek, BEL)
,
ZHENG X.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
,
BIRIS C. G.
(Univ. Coll. London, London, GBR)
,
PANOIU N. C.
(Univ. Coll. London, London, GBR)
,
SILHANEK A. V.
(Univ. Liege, Sart Tilman, BEL)
,
VOLSKIY V.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
,
AKTSIPETROV O. A.
(Moscow State Univ., Moscow, RUS)
,
VANDENBOSCH G. A. E.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
,
AMELOOT M.
(Univ. Hasselt, Diepenbeek, BEL)
,
MOSHCHALKOV V. V.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
,
VERBIEST T.
(KU Leuven, Leuven, BEL)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
8424
ページ:
842411.1-842411.8
発行年:
2012年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)