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文献
J-GLOBAL ID：201202227548289060
整理番号：12A1049018
軟X線共鳴磁気反射率による超薄膜の深さ分解磁化分布
Depth-resolved magnetization distribution in ultra thin films by soft X-ray resonant magnetic reflectivity
TONNERRE J. -M.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
JAL E.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
BONTEMPI E.
(Universita di Brescia, Laboratorio di Chimica per le Tecnologie, 25123, Brescia, ITA)
,
JAOUEN N.
(Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Saint-Aubin, Boite Postale 48, 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, FRA)
,
ELZO M.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
ELZO M.
(Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Saint-Aubin, Boite Postale 48, 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, FRA)
,
GRENIER S.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
MEYERHEIM H. L.
(Max-Planck-Institut fuer Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120, Halle, DEU)
,
PRZYBYLSKI M.
(Max-Planck-Institut fuer Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120, Halle, DEU)
資料名：
European Physical Journal. Special Topics
(European Physical Journal. Special Topics)
巻： 208 号： 1 ページ： 177-187 発行年： 2012年06月
JST資料番号： W2178A ISSN： 1951-6355 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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