文献
J-GLOBAL ID:201202227548289060
整理番号:12A1049018
軟X線共鳴磁気反射率による超薄膜の深さ分解磁化分布
Depth-resolved magnetization distribution in ultra thin films by soft X-ray resonant magnetic reflectivity
著者 (9件):
TONNERRE J. -M.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
JAL E.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
BONTEMPI E.
(Universita di Brescia, Laboratorio di Chimica per le Tecnologie, 25123, Brescia, ITA)
,
JAOUEN N.
(Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Saint-Aubin, Boite Postale 48, 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, FRA)
,
ELZO M.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
ELZO M.
(Synchrotron SOLEIL, L’Orme des Merisiers, Saint-Aubin, Boite Postale 48, 91192, Gif-sur-Yvette Cedex, FRA)
,
GRENIER S.
(CNRS et Univ. Joseph Fourier, Inst. Neel, BP. 166, 38042, Grenoble Cedex 9, FRA)
,
MEYERHEIM H. L.
(Max-Planck-Institut fuer Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120, Halle, DEU)
,
PRZYBYLSKI M.
(Max-Planck-Institut fuer Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120, Halle, DEU)
資料名:
European Physical Journal. Special Topics
(European Physical Journal. Special Topics)
巻:
208
号:
1
ページ:
177-187
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
W2178A
ISSN:
1951-6355
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)