文献
J-GLOBAL ID:201202227611806525
整理番号:12A0430711
4バールの圧力下での電子顕微鏡観測が可能になる非常に薄いけれども非常に強いウインドウを備えた微細加工チャンネル
Micro-fabricated channel with ultra-thin yet ultra-strong windows enables electron microscopy under 4-bar pressure
著者 (8件):
ALAN Tuncay
(Delft Inst. of Microsystems and Nanoelectronics, Delft Univ. of Technol., 2628 CT Delft, NLD)
,
YOKOSAWA Tadahiro
(Centre for High Resolution Electron Microscopy, Delft Univ. of Technol., 2628 CJ Delft, NLD)
,
GASPAR Joao
(Dep. of Microsystems Engineering (IMTEK), Univ. of Freiburg Georges-Kohler-Allee 103, D-79110 Freiburg, DEU)
,
PANDRAUD Gregory
(Delft Inst. of Microsystems and Nanoelectronics, Delft Univ. of Technol., 2628 CT Delft, NLD)
,
PAUL Oliver
(Dep. of Microsystems Engineering (IMTEK), Univ. of Freiburg Georges-Kohler-Allee 103, D-79110 Freiburg, DEU)
,
CREEMER Fredrik
(Delft Inst. of Microsystems and Nanoelectronics, Delft Univ. of Technol., 2628 CT Delft, NLD)
,
SARRO Pasqualina M.
(Delft Inst. of Microsystems and Nanoelectronics, Delft Univ. of Technol., 2628 CT Delft, NLD)
,
ZANDBERGEN Henny W.
(Centre for High Resolution Electron Microscopy, Delft Univ. of Technol., 2628 CJ Delft, NLD)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
100
号:
8
ページ:
081903
発行年:
2012年02月20日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)