文献
J-GLOBAL ID:201202227791727334
整理番号:12A0876522
ナノスケール二次イオン質量分析イメージングによる精密元素分析および同位体比定量のための多中スケールアプローチ
A multi-scale approach to determine accurate elemental and isotopic ratios by nano-scale secondary ion mass spectrometry imaging
著者 (4件):
HATTON Pierre-Joseph
(INRA, Champenoux, FRA)
,
REMUSAT Laurent
(Museum National d’Histoire Naturelle, Paris, FRA)
,
ZELLER Bernd
(INRA, Champenoux, FRA)
,
DERRIEN Delphine
(INRA, Champenoux, FRA)
資料名:
Rapid Communications in Mass Spectrometry
(Rapid Communications in Mass Spectrometry)
巻:
26
号:
11
ページ:
1363-1371
発行年:
2012年06月
JST資料番号:
T0695A
ISSN:
0951-4198
CODEN:
RCMSEF
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)