文献
J-GLOBAL ID:201202227915901362
整理番号:12A0238092
溶液プロセスにより製作した亜鉛-スズ-酸化膜薄膜トランジスタの動作安定性に対する亜鉛/スズ組成比の影響
Effect of Zinc/Tin Composition Ratio on the Operational Stability of Solution-Processed Zinc-Tin-Oxide Thin-Film Transistors
著者 (3件):
KIM Yong-Hoon
(Korea Electronics Technol. Inst., Seongnam, KOR)
,
HAN Jeong-In
(Dongguk Univ., Seoul, KOR)
,
PARK Sung Kyu
(Chung-Ang Univ., Seoul, KOR)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
33
号:
1
ページ:
50-52
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)