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文献
J-GLOBAL ID：201202228360690928
整理番号：12A0675028
C60+スパッタリングを用いる正二次イオンの劇的に増強された酸素取込及びイオン化収率
Dramatically Enhanced Oxygen Uptake and Ionization Yield of Positive Secondary Ions with C60+ Sputtering
LIAO Hua-Yang
(Academia Sinica, Tapei, TWN)
,
TSAI Meng-Hung
(Nation Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
YOU Yun-Wen
(Academia Sinica, Tapei, TWN)
,
CHANG Hsun-Yun
(Academia Sinica, Tapei, TWN)
,
HUANG Chih-Chieh
(Nation Taiwan Univ., Taipei, TWN)
,
SHYUE Jing-Jong
(Academia Sinica, Tapei, TWN)
,
SHYUE Jing-Jong
(Nation Taiwan Univ., Taipei, TWN)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 84 号： 7 ページ： 3355-3361 発行年： 2012年04月03日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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