文献
J-GLOBAL ID:201202231458674042
整理番号:12A0528744
準定常状態の光ルミネッセンスを介したシリコン中のマイクロ秒キャリアの寿命測定
Microsecond carrier lifetime measurements in silicon via quasi-steady-state photoluminescence
著者 (2件):
GIESECKE Johannes A.
(Fraunhofer Inst. Solare Energiesysteme, Freiburg, DEU)
,
WARTA Wilhelm
(Fraunhofer Inst. Solare Energiesysteme, Freiburg, DEU)
資料名:
Progress in Photovoltaics
(Progress in Photovoltaics)
巻:
20
号:
2
ページ:
238-245
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
W0463A
ISSN:
1062-7995
CODEN:
PPHOED
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)