文献
J-GLOBAL ID:201202231502178597
整理番号:12A1673836
局所二進パターンを利用した局所照射補正による変化検出
Change detection by local illumination compensation using local binary pattern
著者 (4件):
LIU Xiaochun
(National Univ. Defense Technol., Changsha, CHN)
,
SHANG Yang
(National Univ. Defense Technol., Changsha, CHN)
,
LEI Zhihui
(National Univ. Defense Technol., Changsha, CHN)
,
YU Qifeng
(National Univ. Defense Technol., Changsha, CHN)
資料名:
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻:
51
号:
9
ページ:
097202.1-097202.9
発行年:
2012年09月
JST資料番号:
B0577B
ISSN:
0091-3286
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)