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文献
J-GLOBAL ID：201202232268881005
整理番号：12A0589102
GaN自立基板上のn-GaN面内ホールトラップ濃度分布
松村俊哉
(Aichi Inst. of Technol.)
,
丸山雄史
(Aichi Inst. of Technol.)
,
山口真太朗
(Aichi Inst. of Technol.)
,
山田悠二郎
(Aichi Inst. of Technol.)
,
本田銀熙
(Aichi Inst. of Technol.)
,
徳田豊
(Aichi Inst. of Technol.)
,
上田博之
(Toyota Central R&D Lab., Inc.)
,
成田哲生
(Toyota Central R&D Lab., Inc.)
,
上杉勉
(Toyota Central R&D Lab., Inc.)
,
加地徹
(Toyota Central R&D Lab., Inc.)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 59th ページ： ROMBUNNO.17P-GP18-3 発行年： 2012年02月29日
JST資料番号： Y0054B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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