文献
J-GLOBAL ID:201202232517133235
整理番号:12A0025859
品質と信頼性との相関に導入するスケール構造
Introducing a scale structure to correlate quality and reliability
著者 (3件):
ROESCH William J.
(TriQuint Semiconductor, Inc., 2300 N.E. Brookwood Parkway, Hillsboro, OR 97124-5300, USA)
,
HAMADA Dorothy June M.
(TriQuint Semiconductor, Inc., 2300 N.E. Brookwood Parkway, Hillsboro, OR 97124-5300, USA)
,
LITTLETON David
(TriQuint Semiconductor, Inc., 2300 N.E. Brookwood Parkway, Hillsboro, OR 97124-5300, USA)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
52
号:
1
ページ:
16-22
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)