文献
J-GLOBAL ID:201202233185828109
整理番号:12A1037066
MOSFETのId-VgおよびCcg-Vg超高速同時測定に基づく新しい移動度抽出技術
A New Mobility Extraction Technique Based on Simultaneous Ultrafast Id-Vg and Ccg-Vg Measurements in MOSFETs
著者 (3件):
JI Z.
(John Moores Univ., Liverpool, GBR)
,
ZHANG J. F.
(John Moores Univ., Liverpool, GBR)
,
ZHANG W.
(John Moores Univ., Liverpool, GBR)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
59
号:
7
ページ:
1906-1914
発行年:
2012年07月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)