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J-GLOBAL ID：201202233330617006 整理番号：12A0063229

スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法

Improvement of Test Data Compression Rate for Chiba-Scan Testing by Reconstructing Scan Chain

著者 (3件)：

赤川慎人

(千葉大大学院融合科学研究科)

難波一輝

(千葉大大学院融合科学研究科)

伊藤秀男

(千葉大大学院融合科学研究科)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 111 号： 324(VLD2011 52-90) ページ： 121-126 発行年： 2011年11月21日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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