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文献
J-GLOBAL ID：201202233508648903
整理番号：12A0165359
静電力顕微法と人工ニューラル・ネットワークによって得た薄膜の超高誘電率
Ultrahigh dielectric constant of thin films obtained by electrostatic force microscopy and artificial neural networks
CASTELLANO-HERNANDEZ E.
(Departamento de Ingenieria Informatica, Universidad Autonoma de Madrid, Campus de Cantoblanco, 28049 Madrid, ESP)
,
SACHA G. M.
(Departamento de Ingenieria Informatica, Universidad Autonoma de Madrid, Campus de Cantoblanco, 28049 Madrid, ESP)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 100 号： 2 ページ： 023101 発行年： 2012年01月09日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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