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文献
J-GLOBAL ID：201202233881732965
整理番号：12A0580782
アナログ負バイアス温度不安定性モニタ回路
Analog Negative-Bias-Temperature-Instability Monitoring Circuit
YELTEN Mustafa Berke
(North Carolina State Univ., NC, USA)
,
YELTEN Mustafa Berke
(Intel Corp., OR, USA)
,
FRANZON Paul D.
(North Carolina State Univ., NC, USA)
,
STEER Michael B.
(North Carolina State Univ., NC, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
(IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 12 号： 1 ページ： 177-179 発行年： 2012年03月
JST資料番号： W1320A ISSN： 1530-4388 CODEN： ITDMA2 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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