文献
J-GLOBAL ID:201202235966839737
整理番号:12A0784422
石油製品中の痕跡レベルでのシリコンスペシエーションおよび分子キャラクタリゼーションのためのKendrickプロットおよびFourier変換-イオンサイクロトロン共鳴/質量分析の結合
Combining Fourier Transform-Ion Cyclotron Resonance/Mass Spectrometry Analysis and Kendrick Plots for Silicon Speciation and Molecular Characterization in Petroleum Products at Trace Levels
著者 (5件):
CHAINET Fabien
(IFP Energies nouvelles-Lyon, Solaize, FRA)
,
PONTHUS Jeremie
(IFP Energies nouvelles-Lyon, Solaize, FRA)
,
LIENEMANN Charles-Philippe
(IFP Energies nouvelles-Lyon, Solaize, FRA)
,
COURTIADE Marion
(IFP Energies nouvelles-Lyon, Solaize, FRA)
,
DONARD Olivier Francois Xavier
(UPPA, CNRS, Pau, FRA)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
84
号:
9
ページ:
3998-4005
発行年:
2012年05月01日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)