文献
J-GLOBAL ID:201202236984039884
整理番号:12A0663885
自然SiO2層上にプローブ誘起された4nm極薄SiO3.4突起の走査型光電子放出スペクトロマイクロスコピック研究
Scanning Photoemission Spectromicroscopic Study of 4-nm Ultrathin SiO3.4 Protrusions Probe-Induced on the Native SiO2 Layer
著者 (9件):
DEVAN Rupesh S.
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
,
GAO Shun-Yu
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
,
LIN Yu-Rong
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
,
CHENG Shun-Rong
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
,
HSU Chia-Er
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
,
CHEN Chia-Hao
(National Synchrotron Radiation Res. Center, Hsinchu, TWN)
,
SHIU Hung-Wei
(National Synchrotron Radiation Res. Center, Hsinchu, TWN)
,
LIOU Yung
(Academia Sinica, Taipei, TWN)
,
MA Yuan-Ron
(National Dong Hwa Univ., Hualien, TWN)
資料名:
Microscopy and Microanalysis
(Microscopy and Microanalysis)
巻:
17
号:
6
ページ:
944-949
発行年:
2011年12月
JST資料番号:
W1587A
ISSN:
1431-9276
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)