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J-GLOBAL ID：201202237948528115 整理番号：12A0063217

動的構成が可能なNoCテストアクセスメカニズム

A Dynamically Configurable NoC Test Access Mechanism

著者 (3件)：

SBIAI Takieddine

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

NAMBA Kazuteru

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

ITO Hideo

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 111 号： 324(VLD2011 52-90) ページ： 49-54 発行年： 2011年11月21日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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