文献
J-GLOBAL ID:201202237963698949
整理番号:12A0238109
シリコン上のVO2/HfO2/VO2ヘテロ構造における電気的に誘起された相変態によるマルチ抵抗状態
Multi-Resistance States Through Electrically Driven Phase Transitions in VO2/HfO2/VO2 Heterostructures on Silicon
著者 (4件):
ZHOU You
(Harvard Univ., MA, USA)
,
YANG Zheng
(Harvard Univ., MA, USA)
,
YANG Zheng
(Univ. Illinois at Chicago, IL, USA)
,
RAMANATHAN Shriram
(Harvard Univ., MA, USA)
資料名:
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻:
33
号:
1
ページ:
101-103
発行年:
2012年01月
JST資料番号:
B0344B
ISSN:
0741-3106
CODEN:
EDLEDZ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)