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文献
J-GLOBAL ID:201202238881164608   整理番号:12A0502316

シリコン検出器の性能評価

著者 (29件):
木内隆太
(ソウル大)
木内隆太
(原子力機構 先端研)
CHANGWOO Joo
(ソウル大)
谷田聖
(ソウル大)
谷田聖
(原子力機構 先端研)
江川弘行
(京大 理)
長谷川勝一
(原子力機構 先端研)
本田良太郎
(原子力機構 先端研)
本田良太郎
(東北大)
市川祐大
(原子力機構 先端研)
市川祐大
(東北大)
今井憲一
(原子力機構 先端研)
AHN Jung Keun
(プサン大)
金築俊輔
(京大 理)
菅野光樹
(東大 理)
松本祐樹
(東北大)
三輪浩司
(東北大)
森津学
(京大 理)
中井恒
(東大 理)
小沢恭一郎
(KEK)
佐甲博之
(原子力機構 先端研)
HWANG San Hoon
(プサン大)
佐藤進
(原子力機構 先端研)
白鳥昂太郎
(原子力機構 先端研)
杉村仁志
(原子力機構 先端研)
杉村仁志
(京大 理)
RYU Sun Young
(プサン大)
民井淳
(RCNP)
YANG Seongbae
(ソウル大)

資料名:
日本物理学会講演概要集  (日本物理学会年次大会講演概要集)

巻: 67  号: 1 第1分冊  ページ: 74  発行年: 2012年03月05日 
JST資料番号: S0671B  ISSN: 1342-8349  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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