文献
J-GLOBAL ID:201202238945878340
整理番号:12A0368714
固有トポロジカル絶縁体Bi2Te2Se薄膜の頑健な表面状態:第一原理研究
Robust surface state of intrinsic topological insulator Bi2Te2Se thin films: a first-principles study
著者 (7件):
DAI Xian-Qi
(Henan Normal Univ., Henan, CHN)
,
DAI Xian-Qi
(Zhengzhou Teachers Coll., Henan, CHN)
,
ZHAO Bao
(Henan Normal Univ., Henan, CHN)
,
ZHAO Jian-Hua
(Henan Normal Univ., Henan, CHN)
,
LI Yan-Hui
(Henan Normal Univ., Henan, CHN)
,
TANG Ya-Nan
(Henan Normal Univ., Henan, CHN)
,
LI Ning
(Henan Univ., Kaifeng, CHN)
資料名:
Journal of Physics. Condensed Matter
(Journal of Physics. Condensed Matter)
巻:
24
号:
3
ページ:
035502,1-6
発行年:
2012年01月25日
JST資料番号:
B0914B
ISSN:
0953-8984
CODEN:
JCOMEL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)