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文献
J-GLOBAL ID：201202239031860601
整理番号：12A1773625
3次元電界イオン顕微鏡による粒状CuFeNi系の微細スケール析出物のナノメータスケールの断層観察
Nanometer Scale Tomographic Investigation of Fine Scale Precipitates in a CuFeNi Granular System by Three-Dimensional Field Ion Microscopy
CAZOTTES Sophie
(Univ. de Rouen, Saint Etienne du Rouvray, FRA)
,
VURPILLOT Francois
(Univ. de Rouen, Saint Etienne du Rouvray, FRA)
,
FNIDIKI Abdeslem
(Univ. de Rouen, Saint Etienne du Rouvray, FRA)
,
LEMARCHAND Dany
(Univ. de Rouen, Saint Etienne du Rouvray, FRA)
,
BARICCO Marcello
(Universita di Torino, Torino, ITA)
,
DANOIX Frederic
(Univ. de Rouen, Saint Etienne du Rouvray, FRA)
資料名：
Microscopy and Microanalysis
(Microscopy and Microanalysis)
巻： 18 号： 5 ページ： 1129-1134 発行年： 2012年10月
JST資料番号： W1587A ISSN： 1431-9276 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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